• head_banner_01

ଡବଲ୍ ବିମ୍ ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି (DB-FIB) ର ପରିଚୟ |

ମାଇକ୍ରୋନାଲିସିସ୍ କ ques ଶଳ ପାଇଁ ଗୁରୁତ୍ୱପୂର୍ଣ୍ଣ ଉପକରଣଗୁଡ଼ିକ ଅନ୍ତର୍ଭୁକ୍ତ: ଅପ୍ଟିକାଲ୍ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି (OM), ଡବଲ୍-ବିମ୍ ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି (DB-FIB), ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି (SEM) ଏବଂ ଟ୍ରାନ୍ସମିସନ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି (TEM) |ଆଜିର ଆର୍ଟିକିଲ୍ ରେଡିଓ ଏବଂ ଟେଲିଭିଜନ୍ ମେଟ୍ରୋଲୋଜି DB-FIB ର ସେବା କ୍ଷମତା ଏବଂ ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର ବିଶ୍ଳେଷଣରେ DB-FIB ର ପ୍ରୟୋଗ ଉପରେ ଧ୍ୟାନ ଦେଇ DB-FIB ର ନୀତି ଏବଂ ପ୍ରୟୋଗକୁ ଉପସ୍ଥାପନ କରିବ |

DB-FIB କ’ଣ?
ଡୁଆଲ୍-ବିମ୍ ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପ୍ (DB-FIB) ହେଉଛି ଏକ ଯନ୍ତ୍ର ଯାହା ଫୋକସ୍ ଆୟନ ବିମ୍ ଏବଂ ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ବିମ୍ କୁ ଏକ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପ୍ ଉପରେ ଏକତ୍ର କରିଥାଏ ଏବଂ ଗ୍ୟାସ୍ ଇଞ୍ଜେକ୍ସନ୍ ସିଷ୍ଟମ୍ (ଜିଏସ୍) ଏବଂ ନାନୋମାନିପୁଲେଟର ଭଳି ଆସେସୋରିଜ୍ ସହିତ ସଜ୍ଜିତ ହୋଇଛି, ଯାହା ଦ୍ many ାରା ଅନେକ କାର୍ଯ୍ୟ ହାସଲ କରାଯାଇପାରିବ | ଯେପରିକି ଇଚିଂ, ସାମଗ୍ରୀ ଜମା, ମାଇକ୍ରୋ ଏବଂ ନାନୋ ପ୍ରକ୍ରିୟାକରଣ |
ସେଥିମଧ୍ୟରୁ, ଫୋକସ୍ ହୋଇଥିବା ଆୟନ ବିମ୍ (FIB) ତରଳ ଗାଲିୟମ୍ ଧାତୁ (ଗା) ଆୟନ ଉତ୍ସ ଦ୍ୱାରା ଉତ୍ପନ୍ନ ଆୟନ ବିମ୍ କୁ ତ୍ୱରାନ୍ୱିତ କରେ, ତାପରେ ଦ୍ secondary ିତୀୟ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ସିଗ୍ନାଲ୍ ସୃଷ୍ଟି କରିବାକୁ ନମୁନା ପୃଷ୍ଠରେ ଧ୍ୟାନ ଦେଇଥାଏ ଏବଂ ଡିଟେକ୍ଟର ଦ୍ୱାରା ସଂଗୃହିତ ହୋଇଥାଏ |କିମ୍ବା ମାଇକ୍ରୋ ଏବଂ ନାନୋ ପ୍ରକ୍ରିୟାକରଣ ପାଇଁ ନମୁନା ପୃଷ୍ଠକୁ ଇଚ୍ କରିବା ପାଇଁ ଶକ୍ତିଶାଳୀ କରେଣ୍ଟ୍ ଆୟନ ବିମ୍ ବ୍ୟବହାର କରନ୍ତୁ |ଶାରୀରିକ ସ୍ପଟରିଂ ଏବଂ ରାସାୟନିକ ଗ୍ୟାସ୍ ପ୍ରତିକ୍ରିୟାର ଏକ ମିଶ୍ରଣ ମଧ୍ୟ ଧାତୁ ଏବଂ ଇନସୁଲେଟରଗୁଡ଼ିକୁ ମନୋନୀତ ଭାବରେ ଜମା କରିବା ପାଇଁ ବ୍ୟବହାର କରାଯାଇପାରେ |

DB-FIB ର ମୁଖ୍ୟ କାର୍ଯ୍ୟ ଏବଂ ପ୍ରୟୋଗଗୁଡ଼ିକ |
ମୁଖ୍ୟ କାର୍ଯ୍ୟଗୁଡ଼ିକ: ସ୍ଥିର ବିନ୍ଦୁ କ୍ରସ୍-ସେକ୍ସନ୍ ପ୍ରକ୍ରିୟାକରଣ, TEM ନମୁନା ପ୍ରସ୍ତୁତି, ଚୟନକାରୀ କିମ୍ବା ବର୍ଦ୍ଧିତ ଇଚିଂ, ଧାତୁ ପଦାର୍ଥ ଜମା ଏବଂ ଇନସୁଲେଟିଂ ସ୍ତର ସଂରକ୍ଷଣ |
ପ୍ରୟୋଗ କ୍ଷେତ୍ର: ସିରାମିକ୍ ସାମଗ୍ରୀ, ପଲିମର, ଧାତୁ ସାମଗ୍ରୀ, ଜୀବବିଜ୍ଞାନ, ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର, ଭୂବିଜ୍ଞାନ ଏବଂ ଅନ୍ୟାନ୍ୟ ଅନୁସନ୍ଧାନ ଏବଂ ଆନୁଷଙ୍ଗିକ ଉତ୍ପାଦ ପରୀକ୍ଷଣରେ DB-FIB ବହୁଳ ଭାବରେ ବ୍ୟବହୃତ ହୁଏ |ବିଶେଷ ଭାବରେ, DB-FIB ର ଅନନ୍ୟ ସ୍ଥିର-ବିନ୍ଦୁ ଟ୍ରାନ୍ସମିସନ୍ ନମୁନା ପ୍ରସ୍ତୁତି କ୍ଷମତା ଏହାକୁ ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର ବିଫଳତା ବିଶ୍ଳେଷଣ କ୍ଷମତାରେ ଅପୂରଣୀୟ କରିଥାଏ |

GRGTEST DB-FIB ସେବା କ୍ଷମତା |
ସାଂଘାଇ ଆଇସି ଟେଷ୍ଟ ଏବଂ ଆନାଲିସିସ୍ ଲାବୋରେଟୋରୀ ଦ୍ୱାରା ସଜ୍ଜିତ DB-FIB ହେଉଛି ଥର୍ମୋ ଫିଲ୍ଡର ହେଲିଓସ୍ G5 ସିରିଜ୍, ଯାହା ବଜାରରେ ସବୁଠାରୁ ଉନ୍ନତ Ga-FIB ସିରିଜ୍ |ଏହି ସିରିଜ୍ 1 nm ତଳେ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନ ବିମ୍ ଇମେଜିଙ୍ଗ୍ ରେଜୋଲୁସନ ସ୍କାନିଂ ହାସଲ କରିପାରିବ ଏବଂ ପୂର୍ବ-ପି generation ଼ିର ଦୁଇ-ବିମ୍ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପି ଅପେକ୍ଷା ଆୟନ ବିମ୍ କାର୍ଯ୍ୟଦକ୍ଷତା ଏବଂ ସ୍ୱୟଂଚାଳିତ ଦୃଷ୍ଟିରୁ ଅଧିକ ଅପ୍ଟିମାଇଜ୍ ହେବ |ବିଭିନ୍ନ ମ basic ଳିକ ତଥା ଉନ୍ନତ ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର ବିଫଳତା ବିଶ୍ଳେଷଣ ଆବଶ୍ୟକତାକୁ ପୂରଣ କରିବା ପାଇଁ DB-FIB ନାନୋମାନିପୁଲେଟର, ଗ୍ୟାସ୍ ଇଞ୍ଜେକ୍ସନ୍ ସିଷ୍ଟମ୍ (ଜିଏସ୍) ଏବଂ ଶକ୍ତି ସ୍ପେକ୍ଟ୍ରମ EDX ସହିତ ସଜ୍ଜିତ |
ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର ଶାରୀରିକ ସମ୍ପତ୍ତି ବିଫଳତା ବିଶ୍ଳେଷଣ ପାଇଁ ଏକ ଶକ୍ତିଶାଳୀ ଉପକରଣ ଭାବରେ, DB-FIB ନାନୋମିଟର ସଠିକତା ସହିତ ସ୍ଥିର-ପଏଣ୍ଟ କ୍ରସ୍-ସେକ୍ସନ୍ ମେସିନିଂ କରିପାରିବ |FIB ପ୍ରକ୍ରିୟାକରଣର ଏକ ସମୟରେ, ନାନୋମିଟର ରିଜୋଲ୍ୟୁସନ୍ ସହିତ ସ୍କାନିଂ ଇଲେକ୍ଟ୍ରନ୍ ବିମ୍ କ୍ରସ୍ ବିଭାଗର ମାଇକ୍ରୋସ୍କୋପିକ୍ ମର୍ଫୋଲୋଜି ଉପରେ ନଜର ରଖିବା ଏବଂ ପ୍ରକୃତ ସମୟରେ ରଚନା ବିଶ୍ଳେଷଣ କରିବା ପାଇଁ ବ୍ୟବହୃତ ହୋଇପାରେ |ବିଭିନ୍ନ ଧାତବ ସାମଗ୍ରୀ (ଟୁଙ୍ଗଷ୍ଟେନ୍, ପଲିଥିନ୍, ଇତ୍ୟାଦି) ଏବଂ ଅଣ-ଧାତବ ସାମଗ୍ରୀ (ଅଙ୍ଗାରକାମ୍ଳ, SiO2) ର ଜମା ହାସଲ କରନ୍ତୁ |ଏକ ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟ ସ୍ଥାନରେ TEM ଅଲ୍ଟ୍ରା-ପତଳା ସ୍ଲାଇସ୍ ମଧ୍ୟ ପ୍ରସ୍ତୁତ କରାଯାଇପାରେ, ଯାହା ପରମାଣୁ ସ୍ତରରେ ଅଲ୍ଟ୍ରା-ହାଇ ରିଜୋଲ୍ୟୁସନ୍ ପର୍ଯ୍ୟବେକ୍ଷଣର ଆବଶ୍ୟକତା ପୂରଣ କରିପାରିବ |
ଆମେ ଉନ୍ନତ ଇଲେକ୍ଟ୍ରୋନିକ୍ ମାଇକ୍ରୋନାଲିସିସ୍ ଉପକରଣରେ ବିନିଯୋଗ ଜାରି ରଖିବା, ସେମିକଣ୍ଡକ୍ଟର ବିଫଳତା ବିଶ୍ଳେଷଣ ସମ୍ବନ୍ଧୀୟ କ୍ଷମତାକୁ କ୍ରମାଗତ ଭାବରେ ଉନ୍ନତି ଏବଂ ବିସ୍ତାର କରିବା ଏବଂ ଗ୍ରାହକମାନଙ୍କୁ ବିସ୍ତୃତ ଏବଂ ବିସ୍ତୃତ ବିଫଳତା ବିଶ୍ଳେଷଣ ସମାଧାନ ପ୍ରଦାନ କରିବୁ |


ପୋଷ୍ଟ ସମୟ: ଏପ୍ରିଲ -14-2024 |